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4 、良好的可測(cè)試性的機(jī)械接觸條件

如果不考慮機(jī)械方面的基本規(guī)則，即使在電氣方面具有非常良好的可測(cè)試性的電路，也可能難以測(cè)試。許多因素會(huì)限制電氣的可測(cè)試性。如果測(cè)試點(diǎn)不夠或太小，探針床適配器就難以接觸到電路的每個(gè)節(jié)點(diǎn)。如果測(cè)試點(diǎn)位置誤差和尺寸誤差太大，就會(huì)產(chǎn)生測(cè)試重復(fù)性不好的問(wèn)題。在使用探針床配器時(shí)，應(yīng)留意一系列有關(guān)套牢孔與測(cè)試點(diǎn)的大小和定位的建議。

5 、最佳可測(cè)試性的電氣前提條件

電氣前提條件對(duì)良好的可測(cè)試性，和機(jī)械接觸條件一樣重要，兩者缺一不可。一個(gè)門電路不能進(jìn)行測(cè)試，原因可能是無(wú)法通過(guò)測(cè)試點(diǎn)接觸到激活輸入端，也可能是激活輸入端處在封裝殼內(nèi)，外部無(wú)法接觸，在原則上這兩情況同樣都是不好的，都使測(cè)試無(wú)法進(jìn)行。在設(shè)計(jì)電路時(shí)應(yīng)該注意，凡是要用在線測(cè)試法檢測(cè)的組件，都應(yīng)該具備某種機(jī)理，使各個(gè)組件能夠在電氣上絕緣起來(lái)。這種機(jī)理可以借助于禁止輸入端來(lái)實(shí)現(xiàn)，它可以將組件的輸出端控制在靜態(tài)的高歐姆狀態(tài)。

雖然幾乎所有的測(cè)試系統(tǒng)都能夠逆驅(qū)動(dòng)（ Backdriving ）方式將某一節(jié)點(diǎn)的狀態(tài)帶到任意狀態(tài)，但是所涉及的節(jié)點(diǎn)最好還是要備有禁止輸入端，首先將此節(jié)點(diǎn)帶到高歐姆狀態(tài)，然后再“平緩地”加上相應(yīng)的電平。

同樣，節(jié)拍發(fā)生器總是通過(guò)激活引線，門電路或插接電橋從振蕩器后面直接斷開(kāi)。激活輸入端決不可直接與電路相連，而是通過(guò) 100 歐姆的電阻與電路連接。每個(gè)組件應(yīng)有自己的激活，復(fù)位或控制引線腳。必須避免許多組件的激活輸入端共享一個(gè)電阻與電路相連。這條規(guī)則對(duì)于 ASIC 組件也適用，這些組件也應(yīng)有一個(gè)引線腳，通過(guò)它，可將輸出端帶到高歐姆狀態(tài)。如果組件在接通工作電壓時(shí)可實(shí)行復(fù)位，這對(duì)于由測(cè)試器來(lái)引發(fā)復(fù)位也是非常有幫助的。在這種情況下，組件在測(cè)試前就可以簡(jiǎn)單地置于規(guī)定的狀態(tài)。

不用的組件引線腳同樣也應(yīng)該是可接觸的，因?yàn)樵谶@些地方未發(fā)現(xiàn)的短路也可能造成組件故障。此外，不用的門電路往往在以后會(huì)被利用于設(shè)計(jì)改進(jìn)，它們可能會(huì)改接到電路中來(lái)。所以同樣重要的是，它們從一開(kāi)始就應(yīng)經(jīng)過(guò)測(cè)試，以保證其工件可靠。

6 、改進(jìn)可測(cè)試性

使用探針床適配器時(shí)，改進(jìn)可測(cè)試性的建議

套牢孔 呈對(duì)角線配置

定位精度為± 0.05mm （± 2mil ）

直徑精度為± 0.076/-0mm （ +3/-0mil ）

相對(duì)于測(cè)試點(diǎn)的定位精度為± 0.05mm （± 2mil ）

離開(kāi)組件邊緣距離至少為 3mm

不可穿通接觸

測(cè)試點(diǎn)

盡可能為正方形

測(cè)試點(diǎn)直徑至少為 0.88mm （ 35mil ）

測(cè)試點(diǎn)大小精度為± 0.076mm （± 3mil ）

測(cè)試點(diǎn)之間間隔精度為± 0.076mm （± 3mil ）

測(cè)試點(diǎn)間隔盡可能為 2.5mm

鍍錫，端面可直接焊接

距離組件邊緣至少為 3mm

所有測(cè)試點(diǎn)應(yīng)可能處于插件板的背面

測(cè)試點(diǎn)應(yīng)均勻布在插件板上

每個(gè)節(jié)點(diǎn)至少有一個(gè)測(cè)試點(diǎn)（ 100 ％信道）

備用或不用的門電路都有測(cè)試點(diǎn)

供電電源的多外測(cè)試點(diǎn)分布在不同位置

組件標(biāo)志

標(biāo)志文字同一方向

型號(hào)、版本、系列號(hào)及條形碼明確標(biāo)識(shí)

組件名稱要清晰可見(jiàn)，且盡可能直接標(biāo)在組件近旁

7 、關(guān)于快閃存儲(chǔ)器和其它可編程組件

快閃存儲(chǔ)器的編程時(shí)間有時(shí)會(huì)很長(zhǎng)（對(duì)于大的存儲(chǔ)器或存儲(chǔ)器組可達(dá) 1 分鐘）。因此，此時(shí)不容許有其它組件的逆驅(qū)動(dòng)，否則快閃存儲(chǔ)器可能會(huì)受到損害。為了避免這種情況，必須將所有與地址總線的控制線相連的組件置于高歐姆狀態(tài)。同樣，數(shù)據(jù)總線也必須能夠被置于隔絕狀態(tài)，以確?？扉W存儲(chǔ)器為空載，并可進(jìn)行下步編程。

系統(tǒng)內(nèi)可編程組件（ ISP ）有一些要求，如 Altera ， XilinX 和 Lattuce 等公司的產(chǎn)品，還有其它一些特殊要求。除了可測(cè)試性的機(jī)械和電氣前提條件應(yīng)得到保證外，還要保證具有編程和確證數(shù)據(jù)的可能性。對(duì)于 Altera 和 Xilinx 組件，使用了連串矢量格式（ Serial Vector Format SVF ），這種格式近期幾乎已發(fā)展成為工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。許多測(cè)試系統(tǒng)可以對(duì)這類組件編程，并將連串矢量格式（ SVF ）內(nèi)的輸入數(shù)據(jù)用于測(cè)試信號(hào)發(fā)生器。通過(guò)邊界掃描鍵（ Boundary-Scan-Kette JTAG ）對(duì)這些組件編程，也將連串?dāng)?shù)據(jù)格式編程。在匯集編程數(shù)據(jù)時(shí)，重要的是應(yīng)考慮到電路中全部的組件鏈，不應(yīng)將數(shù)據(jù)僅僅還原給要編程的組件。

編程時(shí)，自動(dòng)測(cè)試信號(hào)發(fā)生器考慮到整個(gè)的組件鏈，并將其它組件接入旁路模型中。相反， Lattice 公司要求用 JEDEC 格式的數(shù)據(jù)，并通過(guò)通常的輸入端和輸出端并行編程。編程后，數(shù)據(jù)還要用于檢查組件功能。開(kāi)發(fā)部門提供的數(shù)據(jù)應(yīng)盡可能地便于測(cè)試系統(tǒng)直接應(yīng)用，或者通過(guò)簡(jiǎn)單轉(zhuǎn)換便可應(yīng)用。

8 、對(duì)于邊界掃描（ JTAG ）應(yīng)注意什么

由基于復(fù)雜組件組成精細(xì)網(wǎng)格的組件，給測(cè)試工程師只提供很少的可接觸的測(cè)試點(diǎn)。此時(shí)也仍然可能提高可測(cè)試性。對(duì)此可使用邊界掃描和集成自測(cè)試技術(shù)來(lái)縮短測(cè)試完成時(shí)間和提高測(cè)試效果。

對(duì)于開(kāi)發(fā)工程師和測(cè)試工程師來(lái)說(shuō)，建立在邊界掃描和集成自測(cè)試技術(shù)基礎(chǔ)上的測(cè)試戰(zhàn)略肯定會(huì)增加費(fèi)用。開(kāi)發(fā)工程師必然要在電路中使用的邊界掃描組件（ IEEE-1149.1- 標(biāo)準(zhǔn)），并且要設(shè)法使相應(yīng)的具體的測(cè)試引線腳可以接觸（如測(cè)試數(shù)據(jù)輸入 -TDI ，測(cè)試數(shù)據(jù)輸出 -TDO ，測(cè)試鐘頻 -TCK 和測(cè)試模式選擇 -TMS 以及 ggf. 測(cè)試復(fù)位）。測(cè)試工程師給組件制定一個(gè)邊界掃描模型（ BSDL- 邊界掃描描述語(yǔ)言）。此時(shí)他必須知道，有關(guān)組件支持何種邊界掃描功能和指令。邊界掃描測(cè)試可以診斷直至引線級(jí)的短路和斷路。除此之外，如果開(kāi)發(fā)工程師已作規(guī)定，可以通過(guò)邊界掃描指令“ RunBIST ”來(lái)觸發(fā)組件的自動(dòng)測(cè)試。尤其是當(dāng)電路中有許多 ASICs 和其它復(fù)雜組件時(shí)，對(duì)于這些組件并不存在慣常的測(cè)試模型，通過(guò)邊界掃描組件，可以大大減少制定測(cè)試模型的費(fèi)用。

時(shí)間和成本降低的程度對(duì)于每個(gè)組件都是不同的。對(duì)于一個(gè)有 IC 的電路，如果需要 100 ％發(fā)現(xiàn)，大約需要 40 萬(wàn)個(gè)測(cè)試矢量，通過(guò)使用邊界掃描，在同樣的故障發(fā)現(xiàn)率下，測(cè)試矢量的數(shù)目可以減少到數(shù)百個(gè)。因此，在沒(méi)有測(cè)試模型，或接觸電路的節(jié)點(diǎn)受到限制的條件下，邊界掃描方法具有特別的優(yōu)越性。是否要采用邊界掃描，是取決于開(kāi)發(fā)利用和制造過(guò)程中增加的成本費(fèi)用。衽邊界掃描必須和要求發(fā)現(xiàn)故障的時(shí)間，測(cè)試時(shí)間，進(jìn)入市場(chǎng)的時(shí)間，適配器成本進(jìn)行權(quán)衡，并盡可能節(jié)約。在許多情況下，將傳統(tǒng)的在線測(cè)試方法和邊界掃描方法混合鹽業(yè)的方案是最佳的解決方式。