貴金屬檢測系統(tǒng)設備反向開發(fā)克隆案例
發(fā)表時間：2020-12-16 09:25:12 人氣：2327
分析元素范圍：從鋁（13號元素）到鈾（92號元素）
元素分析含量范圍：1ppm到100%
元素同時分析能力：35種元素
測量樣品型態(tài)：固體，粉末，液體
探測器：美國AMPTEK原裝進口高分辨率數(shù)字一體化X-123半導體探測系統(tǒng)，探測面積6mm2分辨率小于139eV，峰背比高，檢測精度更高。
X光管： 自動水制冷系統(tǒng)，對各種元素激發(fā)效率更高
高壓電源：最大功率50W，50kV,1mA
顯示：配備高清液晶顯示屏。
濾波片：6種濾波片與4種準直器自由自動切換。
密度檢測系統(tǒng)：密度檢測儀及檢測軟件一套，可以對樣品的密度進行準確分析鑒定，從而實現(xiàn)對未知樣品內部材料的定性定量分析（本系統(tǒng)具有唯一專利性）
鍍層檢測：儀器可對不同基體上的不同金屬鍍層進行多層檢測，并得出準確結果（使用者可以根據需求進行二次開發(fā)）
樣品成像定位系統(tǒng)：內置自動感光高像素攝像頭及先進的定位軟件，方便樣品的局部定位測量
測量精度：以黃金樣品為例
高含量樣品 （含量在97%以上）誤差<±0.1%
中高含量樣品（含量在75%以上）誤差<±0.1%-0.3%
低含量樣品 （含量在75%以下）誤差±<0.3%
可準確檢測黃金99.9%與99.99%的樣品。
加壓：自動加載高壓電流，自動預熱并校正峰位，省去繁瑣的操作。
測量時間：60秒到180秒可調，一鍵式快速測量3.5秒可出結果
測量次數(shù)：任意可調，且在多次測量時可做平均值及標準偏差測量
峰位：峰位穩(wěn)定性高，8小時漂移小于0.5道。
定量分析方法：基本參數(shù)法，理論Alpha系數(shù)法，經驗系數(shù)法，多元回歸法等。其中基本參數(shù)法是在國內同行業(yè)率先采取此類綜合計算方法。
定性分析方法：元素自動尋峰，Kl譜線標記法，峰譜比對法等
操作軟件：開放的可供客戶自行開發(fā)和升級的工作軟件，使一機多能。
操作模式：一鍵式操作全電腦控制與人工選擇測試方法兩種測試模式，滿足不同測試單位和測試人員的要求。一鍵式操作全電腦控制可自動判斷被測貴金屬的種類，省去人為判斷的過程，提高了測量時間及有可能出現(xiàn)人為誤判，進而大大提高了測量效率。
銀銅雙峰位校準：銀，銅雙峰位同時校準，使儀器校準更加精準，隨時修正工作曲線，使測量結果達到最高精度（同行業(yè)中唯一采取此校準方法）
三重防輻射系統(tǒng)：配備光電快門裝置，更換樣品時X光管自動切斷電壓電流；樣品倉打開，X光管快門自動閉鎖；儀器多層屏蔽艙蓋，有效防止X射線外溢（同行業(yè)中唯一采取三重防輻射系統(tǒng)）
溫度控制系統(tǒng)：內部風冷水冷雙循環(huán)冷卻，最大限度降低X光管工作溫度延長光管使用壽命，且保證儀器長時間工作穩(wěn)定，測量精度準確
硬件結構：儀器雙箱體結構，有效屏蔽干擾，增加儀器整體穩(wěn)定性
超大樣品倉：方便大型樣品的檢測
測試報告：測試報告根據客戶要求獨立設計
其他應用：增加ROHS、鹵素等有毒有害物質的檢測程序及貴金屬有毒有害元素的檢測程序。
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